當(dāng)絕緣介質(zhì)處理良好時(shí)(干燥、清潔、無氣泡)在外施電壓作用下,電場(chǎng)強(qiáng)度與tgδ之間在一定電壓以下近似水平直線關(guān)系,而且電壓上升和下降過程中測(cè)得tgδ值是重合的。
過了這一段,電壓再增高時(shí),tgδ的增長(zhǎng)加快,而曲線向上彎曲。如果再增高電壓,曲線更快向上彎曲,這是由于介質(zhì)中出現(xiàn)了局部放電的原因(圖3-9曲線1)。
如果絕緣中殘留有氣泡或產(chǎn)品設(shè)計(jì)不盡合理,存在有場(chǎng)強(qiáng)集中的部位,因而在較低電壓下氣泡和高電場(chǎng)部位就形成局部放電,tgδ與電壓的特性曲線較早向上彎曲,由于終止放電電壓低于起始電壓,電壓上升及下降過程中測(cè)得的tg曲線在右半部變成不相重合,見圖4-5中曲線2。
當(dāng)絕緣老化時(shí)在低電壓下tg值反而比良好絕緣時(shí)要小,但隨著電壓的升高tgδ開始增長(zhǎng)時(shí)的電壓比較低,曲線較早地向上彎曲(圖4-5曲線3)。老化了絕緣比較易吸潮,一旦吸潮,tgδ在低電壓時(shí)就升得很高,隨著電壓的上升迅速增大,電壓下降時(shí)的tgδ曲線在上升曲線的上方而不閉合。(圖3-9曲線4)。